Dirk Steiner, manažer obchodního rozvoje společnosti Yxlon, se průmyslovou počítačovou tomografií intenzivně zabývá od roku 2004 a naskenoval a analyzoval více než 1 000 datových sad. Zde máte možnost zhlédnout záznam webináře Today's Metrology Live společnosti GIE Media a poslechnout si, jak se náročné metrologické úlohy spolehlivě řeší pomocí výpočetní tomografie. Společnost Yxlon byla přítomna spolu s výrobci dalších technologií souvisejících s metrologií, aby poskytla ucelený přehled řešení.

Dirk hovořil o nejnovějších trendech v metrologii s využitím průmyslové počítačové tomografie (CT) a o tom, jak jsou data klíčem k získání informací, které výrobci potřebují ke zvýšení efektivity a snížení nákladů. Pro výrobce je nejdůležitější vysoká kvalita jejich výrobků. U "kulatého stolu" diskutovalo pět účastníků o tom, jak mohou jejich řešení pomoci výrobcům této úrovně dosáhnout. Měření a analýza vnitřních struktur je však možná pouze pomocí CT.

V odpovědi na jednu z položených otázek Dirk uvedl: "CT je netaktická metoda, takže v procesu neměníme geometrii. Můžeme vidět vnitřní struktury a při dnešním velkém trendu aditivní výroby neexistují žádná omezení, co lze navrhnout a vytisknout. Pomocí CT se můžeme podívat dovnitř a změřit věci, které jsou buď podříznuté, nebo dokonce skryté uvnitř dílu. Kromě toho získáváme také data z defektů, vnitřních vad, které samy o sobě nemají s metrologií nic společného. Takže zabíjíme dvě mouchy jednou ranou."